關(guān)于地面用晶體硅怎樣才算合格的判斷?
關(guān)于本試驗的合格判斷:
如果每一個試驗樣品達(dá)到以下各項判斷,則認(rèn)為該組件設(shè)計通過了鑒定試驗,也通過了定型。
A 在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下,組件的最大輸出功率的衰減在每個單項試驗后不超過規(guī)定的極限,每一組試驗 程序后不超過規(guī)定值的8%;
B 在試驗過程中,無組件呈現(xiàn)開路或接地故障現(xiàn)象;
C 無第7章中定義的任何嚴(yán)重外觀缺陷;
D 全部試驗完以后,仍滿足絕緣測試要求;
E 組件的扭曲試驗從開始到結(jié)束貫串整個過程,并在濕-熱試驗之后;
F 個別試驗會有一些特殊的要求。
如果兩個或兩個以上組件達(dá)不到上述判據(jù),該設(shè)計將視為達(dá)不到鑒定要求。如果一個組件未通過任一項試驗,取另外兩個滿足第3章要求的組件從頭進行全部相關(guān)試驗程序的試驗。假如其中的一個或兩個組件都未通過試驗,該設(shè)計被判定達(dá)不到鑒定要求。如果兩個組件都通過了試驗,則該試驗被認(rèn)為達(dá)到鑒定要求。
關(guān)于此實驗的報告:
通過定型之后,試驗機根據(jù)ISO/IEC 17025電子元器件質(zhì)量評定體系程序給出鑒定實驗報告證書,該證書應(yīng)包括測定的性能參數(shù),以及任何第一次試驗未通過測試和重新試驗的詳細(xì)情況。所有的證書或試驗報告必須至少包含下列各項信息:
A 證書或報告的名稱;
B 測試實驗室的名稱和地址,以及測試進行的地點;
C 確認(rèn)證書或報告的每一業(yè)都有特別的序號;
D 客戶的名稱和地址;
E 對測試的項目進行說明和確認(rèn);
F 測試項目的性能參數(shù)和測試條件;
G 測試開始的日期和測試進行的日期;
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