電波暗室歸一化場地衰減測試的優(yōu)化結果
2022-08-05
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特定幾何校正因子:
1、 如果場地驗證時使用調諧偶極子天線,則NSA的計算要用到互阻抗校正因子 。由于收發(fā)天線之間的近場耦合作用,在測試距離為3 m的時候,該因子必須要考慮,在其他場合中該因子可忽略不計。
2、 如果場地驗證時使用的是其他天線,如雙錐天線和對數周期天線,則NSA的計算要考慮使用特定幾何校正因子GSCF。GSCF是在一個特定幾何結構中測得的參數,用于對場地衰減結果進行修正。該參數綜合考慮了近場電磁場的影響,接收天線受到的非均勻照射,收發(fā)天線之間的互耦,以及天線與地板之間的互耦等因素。
3、為了得到最小的NSA誤差,也為了得到最準確的GSCF校正因子,在獲得GSCF時,天線校準場地與其他輻射測試驗證場地應使用相同的天線、天線塔、線纜和設備。此外,線纜的布置、鐵氧體位置,以及線纜穿過地板的位置也應當保持相同。
所得結論:
經過試驗,對四個典型位置點的NSA進行了測量,然后利用GSCF因子對NSA測量結果進行了校正,最大校正幅度達到1.83 dB,最小校正幅度為0.07 dB。通過提出的優(yōu)化方案,實現了對電波暗室歸一化場地衰減測試結果的校正和優(yōu)化,提高了場地驗證的準確性與可靠性,也間接減小了輻射騷擾測試的潛在誤差。
電波暗室是模擬開闊試驗場和自由空間進行輻射測試的特殊環(huán)境,歸一化場地衰減是電波暗室的最重要的參數之一,該參數決定了場地的性能以及是否適用于輻射測試。要保證場地驗證的有效性就必須盡量準確地測量歸一化場地衰減。
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