冷凍箱內(nèi)部導線傳導耦合原理分析
2022-08-10
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低溫低濕試驗箱是電工電器、航空、汽車、家電、涂料、科研等領域的測試設備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行耐干、耐旱、耐寒、耐潮濕等試驗溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
冷凍箱內(nèi)部導線傳導耦合原理分析
傳導耦合是騷擾源與敏感器件之間的主要耦合途徑之一,分為電容性耦合和電感耦合兩種方式。由于變頻冷凍箱的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)電容性耦合的概率要大于電感性耦合,本文只對電容性耦合進行分析。
為解決冷凍箱內(nèi)傳導耦合的影響,我們提出取消獨立濾波器,采用從主板出線的方式,減少箱體內(nèi)傳導耦合的影響。去除獨立濾波器會導致整個濾波電路的阻抗特性發(fā)生變化,會導致騷擾功率、騷擾電壓裕量減少甚至超標,騷擾電壓、功率數(shù)據(jù)明顯變差。
阻性負載的影響
根據(jù)主控板PCB布局以及冷凍箱負載分析得出:箱內(nèi)線性器件化霜加熱器為敏感器件,箱內(nèi)壓縮機UVW線為干擾源,化霜加熱器在箱體內(nèi)的位置與壓縮機UVW線的位置滿足傳導耦合的條件,導致干擾通過化霜加熱器流入電源線中,從而導致冷凍箱電磁騷擾超標。
針對該問題,將化霜加熱器取電位置改為主板濾波電路后。即把濾波電路前端取電的阻性負載(如化霜加熱器、翻轉(zhuǎn)梁加熱器)調(diào)整至濾波電路后端取電,讓干擾通過濾波電路濾波,防止出現(xiàn)濾波失效的問題。優(yōu)化后騷擾電壓裕量增加,符合標準要求。