簡要描述：三箱式冷熱沖擊試驗箱應用為整體式結構，由箱體、低溫制冷系統(tǒng)、電控系統(tǒng)及閥門換氣系統(tǒng)四大部分構成；工作室在箱體上前部，預冷室位于箱體的前下部,預熱室位于箱體后上部，電控系統(tǒng)位于箱體的右側面，制冷系統(tǒng)置于后下部。

產品型號：
廠商性質：生產廠家
更新時間：2023-10-16
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產品詳情

三箱式冷熱沖擊試驗箱應用

　執(zhí)行與滿足標準：

　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

　　2、GB/T2423.2-2001;

　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

　　4. GJB150.3-86;

　　5. GJB150.4-86;

　　6. GJB150.5-86;

　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

　　9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式;

　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;

　　12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

　　10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;

　　11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

　　12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

　　13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

冷熱沖擊實驗箱規(guī)格/SPEC:（可根據(jù)用戶產品尺寸進行設計定制）

型號：	OK-TS-49	OK-TS-80	OK-TS-150	OK-TS-225
內部尺寸(W×H×D)cm	40×35×30	50×40×40	60×50×50	70×60×60
外部尺寸(W×H×D)cm	145×180×140	150×185×145	185×150×250	190×170×270
蓄熱區(qū)儲能溫度范圍	RT (常溫)～+200℃
蓄冷區(qū)儲能溫度范圍	RT (常溫)～ -70℃
測試區(qū)實驗溫度范圍	熱沖實驗（+60℃～+150℃ ）
	冷沖實驗（A:0℃～-45℃/ B:0℃～-55℃ / C:0℃～-65℃）
沖擊方式	試品靜止（氣動氣缸風門切換高/低溫箱）
蓄熱區(qū)預熱時間	RT～150℃ 約 30分
蓄冷區(qū)預冷時間	RT～-70℃ 約 85分
沖擊恢復時間	低于5min
溫度控制精度	±0.5℃
溫度均勻度	±2.0℃
冷凍系統(tǒng)	全密閉式或半密閉式壓縮機，環(huán)保冷媒(R404A/R23)
材質	內箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。
保溫材質	高強度防火PU發(fā)泡絕緣材料
配件	引線孔：￠50mm 1個/不銹鋼SUS #304板置物架（二層）
電源	電源線位于機器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長2.5米

　產品特點：

　　▲*的三箱式結構避免試驗品平繁移動，更有利于試品做通電試驗

　　▲可分別做高溫、低溫、沖擊試驗

　　▲SUS304鏡面不銹鋼內膽，殼體A3板噴塑，外形美觀大方

　　▲進口制冷機組，關鍵配件均采用品牌

　　▲配備多重保護裝置，提高運行可靠性

　　▲系統(tǒng)操作簡單，安裝維護方便

　　▲具備全自動，高精度系統(tǒng)，任一機件動作，*由PLC鎖定處理

用途

用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.